Дефектоскоп ВИД-345 на конкурсе "ИННОВАЦИЯ 2010" - 9 Международная выставка "Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности" (Москва, 2010)

Предыдущее Следующее
Предыдущее Следующее
Вернуться в галерею